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網絡研討會將在兩個時間段進行：6月份星期二，2023年6月27日晚上10:00至11:00 CST星期三，2023年6月28日凌晨2:00至3:00 CST點我報名在OmniScan™ X3系列的MXU 5.13更新中引入的合併B-Scan（專利申請中）是一種將所有B-Scan方便地合併成一個數據視圖的新方法。這種創新的B-Scan數據視圖方式極大地簡化和提高了焊接檢測篩選過程的效率。在這個網絡研討會中，您將學到以下內容：使用合併B-Scan進行PAUT焊接檢測和數據分析的好處合併B-Scan與現有視圖的比較使用合併B-Scan的推薦實踐方法在網絡研討會期間，您將有機會看到合併B-Scan應用於PAUT焊接檢測數據的示例。

離岸風電塔柱焊道檢測使用TOFD技術，減少大量檢測時間對於製造商來說，確保塔柱的焊接品質至關重要。風塔的焊接是其結構中最重要的部分之一，它負責承受風載荷和風塔自重，因此焊接的質量和強度對風力發電系統的運行和安全至關重要。因此，對風塔焊道進行檢測具有重要的意義。OYLMPUS提供檢測應用解決方案，按此查看更多。

原廠授權校正設備提供最高品質校驗服務愛光科技作為非破壞領導品牌，因應離岸風電市場需求，即將在台灣為大家做設備校驗服務。我們所有的校正設備都通過性能測試與操作，符合原廠設備製造商規範以及相關行業標準，可確保數據可信度。校正由認證的技術人員、設備和美國授權軟體進行，同時監控環境的溫度與濕度，並在證書上註明。目前可服務範圍包含EPOCH 與 NORTEC 全系列設備、測厚儀全系列設備，支援原廠校驗報告或是具備ISO 22232 , EN 12668 , EN 15317 等要求證書。相關技術服務問題，請來電洽詢愛光科技，有專門的校正技術人員可替您服務。

2022第21屆非破壞檢測技術研討會暨財團法人台灣非破壞檢測協會年會The 21st Conference on Nondestructive Testing Technology and 2022 Annual Meeting, CNDT 2022會議時間與地點：10/27-28, 2022 於 日月潭教師會館（地點已確認）今年非破壞檢測協會年會如期舉辦，愛光科技攤位位於15-17號，此次將會展示最新陣列式設備及全新功能，歡迎國內外非破壞檢測領域的專家、學者、教授、學生及業主一同參加 !大會網站重要日期徵稿資訊投稿資訊報名資訊

全新DRC 1024 DR數位板專用定位器新的定位工具可以輕鬆安全地放置DRC 1024 NDT數位式平板。工作範圍高度為 420 mm 的夾持器具，無論數位板是連接到管道（Ø 10 mm 至 90 mm）還是其他物體上，只需幾秒鐘即可定位。可快速重新定位，例如部分暴露或符合附近的焊道型態，無需重新夾緊工具。

相干成像 (PCI) 的 5 大主要優勢利用 PCI 來獲得具有前所未有的清晰度和對小缺陷敏感度的實時全聚焦法 (TFM) 圖像。隨著 MXU 5.10 軟體的發布，OmniScan™ X3 64 探傷儀新增了一種先進超音波檢測技術：相位相干成像 (PCI)。PCI 的工作原理 / 與其他超聲技術的區別PCI 是一種無振幅技術。它的信號處理完全基於 A 掃描的相位資訊用於生成 TFM 圖像。PCI的工作原理：首先，對獲得的 A 掃描進行標準統一化。然後，針對 TFM 區域中的每個位置比較每個 A 掃描的相位分佈。對於目標位置，A 掃描之間的相干水平越高，該位置的信號響應越強（最大值為 100%）。與來自高頻背景雜訊，收集信號的非相干響應相比，缺陷的反射和衍射導致相干響應。這使得識別缺陷變得非常容易，特別是對於低密度或高衰減材料中的小缺陷。以下五點為PCI主要優勢：1. 使用信號相位信息的實時 2D 圖像PCI 是一種強大的技術，用於識別定向不良或非常小的缺陷，例如高溫氫侵蝕 (HTHA)，但它避免了與 TOFD 相關的問題。由於 TFM 獲取體積數據，因此可以在各個方向定位缺陷並確定其大小。使用 PCI 模式的最終圖像也完全獨立於幅度。2. 不可能使信號飽和基於振幅技術面臨的挑戰之一是信號飽和。儘管在設置過程中進行了校準和增益調整，但某些反射器仍有可能使信號飽和。這可能是由於它們與校準塊或其他已知反射器中的側鑽孔 (SDH) 相比的尺寸、類型或方向。由於 PCI 基於每個基本 A 掃描相位中統計方差的一致性，所有 A 掃描之間的一致性水平不能超過 100%。即使基本 A 掃描的信號飽和，這也不會影響最終的 PCI 數據。3. 無需預先調整已知反射器的增益PCI 是一種完全無振幅的技術。這意味著您無需在校準塊中使用已知反射器來調整增益的設置步驟。當您在 OmniScan X3 64 設置參數中選擇“Phase Coherence”模式時，您會看到增益調整被阻止，因為最終 PCI 數據沒有考慮幅度。由於消除了增益調整的需要，創建提供高質量圖像的設置所需時間和精力大大減少。PCI 設置的尺寸精度仍然可以通過缺陷樣本進行驗證。通過使用來自凹槽的尖端繞射響應的峰值，可以用光標測量缺陷高度。4. 更一致的結果和更容易調整大小由於 PCI 設置更容易和更快地創建，不同檢測員之間可實現更好的一致性。由於在掃描期間不可能使信號飽和，並且增益對信號沒有影響，因此在分析過程中可以改變結果的操作較少。要確定缺陷的大小，檢查員只需從尖端繞射中找到熱點，並將光標放在這些熱點中的最大值上。由此產生的讀數提供了缺陷的大小，並且在每次調整大小之前都不需要進行調整。這個過程加快了，也更容易了。5.相同區域覆蓋所需的組更少掃描計劃中的聲學影響圖 (AIM) 工具仍與 PCI 一起使用。PCI 與傳統 TFM 相比的優勢在於 AIM 顯示的信號幅度變化無關緊要。在 AIM 顯示零件中的信號分佈的情況下，即使返回的幅度很低，PCI 也會有很好的結果。使用傳統的 TFM 或陣列式技術時，尖端繞射通常會在背景雜訊中消失。PCI 則突破了這個規則，即使它們在傳統 TFM 或 PA 中不明顯時也能脫穎而出。